| Кафедра МПП МИСиС | Основы теории легирования | Лабораторная работа на тему: "Определение концентрации кислорода в кремнии" | o_in_si.zip | Формат TIFF |
| Кафедра МПП МИСиС | Основы теории легирования | Лабораторная работа на тему: "Определение параметров дефектов и примесей, создающих в запрещённой зоне полупроводников глубокие уровни" | def_zz.zip | Формат TIFF |
| А.Е.Краснопольский, Г.И.Прокофьева | Микропроцессорная техника. Микроконтроллер в двухпозиционном регуляторе | Обложка | obl.zip | Формат TIFF |
| А.Е.Краснопольский, Г.И.Прокофьева | Микропроцессорная техника. Микроконтроллер в двухпозиционном регуляторе | Контент | 02-41.zip | Формат TIFF |
| А.Е.Краснопольский, Г.И.Прокофьева | Микропроцессорная техника. Микроконтроллер в двухпозиционном регуляторе | Пример | 42-52.zip | Формат TIFF |
| А.Е.Краснопольский, Г.И.Прокофьева | Микропроцессорная техника. Микроконтроллер в двухпозиционном регуляторе | Варианты заданий | 53-58.zip | Формат TIFF |
| В.М.Мапельман, Т.Б.Карулина, О.М.Смирнова | Комплекс научно-методических материалов по философии | Обложка | obl.zip | Формат TIFF |
| В.М.Мапельман, Т.Б.Карулина, О.М.Смирнова | Комплекс научно-методических материалов по философии | Оглавление | oglav.zip | Формат TIFF |
| В.М.Мапельман, Т.Б.Карулина, О.М.Смирнова | Комплекс научно-методических материалов по философии | Контент | 04-65.zip | Формат TIFF |
| Под редакцией проф. Д.Д.Москвина | Примерные планы семинарских занятий по курсу "Основы экономической теории" | Обложка | obl.zip | Формат TIFF |
| Под редакцией проф. Д.Д.Москвина | Примерные планы семинарских занятий по курсу "Основы экономической теории" | Контент | 02-31.zip | Формат TIFF |
| Ю.Н.Пархоменко | Спектроскопические методы исследования | Содержание | par0.zip | Формат TIFF |
| Ю.Н.Пархоменко | Спектроскопические методы исследования | Электронная Оже-спектроскопия | par1.zip | Формат TIFF |
| Ю.Н.Пархоменко | Спектроскопические методы исследования | Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия | par2.zip | Формат TIFF |
| Ю.Н.Пархоменко | Спектроскопические методы исследования | Вторичная йонная масс-спектрометрия | par3.zip | Формат TIFF |
| Ю.Н.Пархоменко | Спектроскопические методы исследования | Сканирующая туннельная микроскопия | par4.zip | Формат TIFF |
| А.А.Ростовцева | Квантовая статистика | Обложка | obl.zip | Формат TIFF |
| А.А.Ростовцева | Квантовая статистика | Оглавление | oglav.zip | Формат TIFF |
| А.А.Ростовцева | Квантовая статистика | Некоторые понятия статистической физики | 00-08.zip | Формат TIFF |
| А.А.Ростовцева | Квантовая статистика | Задачи по классической статистике | 09-13.zip | Формат TIFF |
| А.А.Ростовцева | Квантовая статистика | Задачи по квантовой статистике | 14-26.zip | Формат TIFF |
| Г.А.Ртищева, Н.В.Каретникова | Методические рекомендации по оформлению дипломной работы и пояснительной записки к дипломному проекту (обязательное приложение к методическим рекомендациям МИСиС №522 и №806) | Пособие целиком | dip_metr.zip | Формат PNG |
| И.А.Соколов | Расчёты процессов полупроводниковой технологии | Обложка и УДК | obl.zip | Формат TIFF |
| И.А.Соколов | Расчёты процессов полупроводниковой технологии | Оглавление | oglav.zip | Формат TIFF |
| И.А.Соколов | Расчёты процессов полупроводниковой технологии | Предисловие | 004-005.zip | Формат TIFF |
| И.А.Соколов | Расчёты процессов полупроводниковой технологии | Расчет распределения легирующей примеси при ее диффузии в полупроводниковую пластину и временной зависимости положения p-n перехода | 006-014.zip | Формат TIFF |
| И.А.Соколов | Расчёты процессов полупроводниковой технологии | Расчет процесса нагрева тел | 015-022.zip | Формат TIFF |
| И.А.Соколов | Расчёты процессов полупроводниковой технологии | Расчет коэффициентов динамической и кинематической вязкости и взаимодиффузии | 023-035.zip | Формат TIFF |
| И.А.Соколов | Расчёты процессов полупроводниковой технологии | Расчет газодинамики в трубчатом реакторе | 036-041.zip | Формат TIFF |
| И.А.Соколов | Расчёты процессов полупроводниковой технологии | Расчет толщины динамического, диффузионного и теплового пограничных слоев | 042-051.zip | Формат TIFF |
| И.А.Соколов | Расчёты процессов полупроводниковой технологии | Расчет равновесного коэффициента распределения жидкость-пар и концентрации примеси во фракциях, получаемых в процессе дистилляции | 051-059.zip | Формат TIFF |
| И.А.Соколов | Расчёты процессов полупроводниковой технологии | Расчет процесса непрерывной ректификации | 060-068.zip | Формат TIFF |
| И.А.Соколов | Расчёты процессов полупроводниковой технологии | Расчет скорости роста пленок из паровой фазы в различных режимах протекания процесса и изменения состава пленок по толщине при вакуум-термическом напылении | 068-088.zip | Формат TIFF |
| И.А.Соколов | Расчёты процессов полупроводниковой технологии | Расчет равновесного коэффициента распределения жидкость-твердое и эффективного коэффициента распределения для процесса выращивания монокристаллов по методу Чохральского | 088-097.zip | Формат TIFF |
| И.А.Соколов | Расчёты процессов полупроводниковой технологии | Расчет распределения примеси в монокристалле и расплаве и градиента температуры, необходимого для устранения концентрационного переохлаждения | 098-105.zip | Формат TIFF |
| И.А.Соколов | Расчёты процессов полупроводниковой технологии | Расчет распределения летучей примеси по длине монокристалла, выращенного в вакууме | 106-113.zip | Формат TIFF |
| И.А.Соколов | Расчёты процессов полупроводниковой технологии | Расчет скорости роста эпитаксиального слоя кремния из парогазовой фазы в квазиравновесном и диффузионном режимах процесса | 113-129.zip | Формат TIFF |
| И.А.Соколов | Расчёты процессов полупроводниковой технологии | Расчет скорости роста эпитаксиальных слоев из парогазовой фазы при использовании химических транспортных реакций | 129-142.zip | Формат TIFF |
| И.А.Соколов | Расчёты процессов полупроводниковой технологии | Расчет скорости роста и толщины эпитаксиального слоя при выращивании из раствора-расплава в квазиравновесном и диффузионном режимах и градиента температуры, необходимого для устранения концентрационного переохлаждения | 142-151.zip | Формат TIFF |
| И.А.Соколов | Расчёты процессов полупроводниковой технологии | Приложения | 152-176.zip | Формат TIFF |
| В.Л.Торхов | Турбо Бейсик - справочное руководство | Обложка | obl.zip | Формат TIFF |
| В.Л.Торхов | Турбо Бейсик - справочное руководство | Оглавление; указатель функций и операторов | oglav.zip | Формат TIFF |
| В.Л.Торхов | Турбо Бейсик - справочное руководство | Описание языка | 04-45.zip | Формат TIFF |
| В.Л.Торхов | Турбо Бейсик - справочное руководство | Среда программирования | 46-52.zip | Формат TIFF |
| В.Л.Торхов | Турбо Бейсик - справочное руководство | Приложения | 53-55.zip | Формат TIFF |
| В.Л.Торхов | Турбо Бейсик - справочное руководство | Список сообщений об ошибках | 56-63.zip | Формат TIFF |
| Л.А.Фёдоров, В.В.Голубцов, В.Б.Ликманов под ред. В.А.Роменца | Экономика и организация производства. Учебное пособие для студентов специальностей 0604, 0629. | Пособие целиком | dipecon.zip | Формат PNG |
|
В.А. Харченко |
"Технологическое оборудование и автоматизация производства полупроводниковых
материалов" | Пособие целиком.
Предпечатный вариант. |
hvato.rar |
Формат Microsoft Word 2000/XP |
| В.Т.Бублик, С.С.Горелик, А.Н.Дубровина, Г.М.Зимичева №7 | Лабораторный практикум по курсу "Методы исследования структуры" | Обложка | obl.zip | Формат TIFF |
| В.Т.Бублик, С.С.Горелик, А.Н.Дубровина, Г.М.Зимичева №7часть 2 | Лабораторный практикум по курсу "Методы исследования структуры" | Оглавление | oglav.zip | Формат TIFF |
| В.Т.Бублик, С.С.Горелик, А.Н.Дубровина, Г.М.Зимичева №7часть 2 | Лабораторный практикум по курсу "Методы исследования структуры" | Работа №12 "Задачи, решаемые с помощью рентгенограмм, снятых по методу Лауэ" | 003-026.zip | Формат TIFF |
| В.Т.Бублик, С.С.Горелик, А.Н.Дубровина, Г.М.Зимичева №7часть 2 | Лабораторный практикум по курсу "Методы исследования структуры" | Работа №13 "Получение и систематический ход расчёта рентгенограмм поликристаллов" | 027-042.zip | Формат TIFF |
| В.Т.Бублик, С.С.Горелик, А.Н.Дубровина, Г.М.Зимичева №7часть 2 | Лабораторный практикум по курсу "Методы исследования структуры" | Работа №14 "Прецизионное определение периодов решётки кубических кристаллов по методу Страуманиса" | 043-050.zip | Формат TIFF |
| В.Т.Бублик, С.С.Горелик, А.Н.Дубровина, Г.М.Зимичева №7часть 2 | Лабораторный практикум по курсу "Методы исследования структуры" | Работа №15 "Задачи, решаемые с помощью анализа интенсивности дифрагированного излучения" | 051-073.zip | Формат TIFF |
| В.Т.Бублик, С.С.Горелик, А.Н.Дубровина, Г.М.Зимичева №7часть 2 | Лабораторный практикум по курсу "Методы исследования структуры" | Работа №16 "Анализ текстур материалов с кубической решёткой с помощью полюсных фигур, построенных методом 'На отражение'" | 074-083.zip | Формат TIFF |
| В.Т.Бублик, С.С.Горелик, А.Н.Дубровина, Г.М.Зимичева №7часть 2 | Лабораторный практикум по курсу "Методы исследования структуры" | Работа №17 "Анализ текстуры материалов с некубическими решётками с помощью 'обратных' полюсных фигур" | 084-089.zip | Формат TIFF |
| В.Т.Бублик, С.С.Горелик, А.Н.Дубровина, Г.М.Зимичева №7часть 2 | Лабораторный практикум по курсу "Методы исследования структуры" | Работа №18 "Определение размеров кристаллитов и областей когерентного рассеяния" | 090-111.zip | Формат TIFF |
| В.Т.Бублик, С.С.Горелик, А.Н.Дубровина, Г.М.Зимичева №7часть 2 | Лабораторный практикум по курсу "Методы исследования структуры" | Работа №19 "Дифракционная микрорентгенография" | 112-122.zip | Формат TIFF |
| В.Т.Бублик, С.С.Горелик, А.Н.Дубровина, Г.М.Зимичева №7часть 2 | Лабораторный практикум по курсу "Методы исследования структуры" | Работа №20 "Электронография" | 123-147.zip | Формат TIFF |
| В.Т.Бублик, С.С.Горелик, А.Н.Дубровина, Г.М.Зимичева №7часть 2 | Лабораторный практикум по курсу "Методы исследования структуры" | Приложение "Обратная решётка" | 148-163.zip | Формат TIFF |
| Коллектив авторов под редакцией А.А.Галаева №86 | Материаловедение полупроводников и диэлектриков | Обложка | obl.zip | Формат TIFF |
| Коллектив авторов под редакцией А.А.Галаева №86 | Материаловедение полупроводников и диэлектриков | Оглавление | oglav.zip | Формат TIFF |
| Коллектив авторов под редакцией А.А.Галаева №86 | Материаловедение полупроводников и диэлектриков | Введение | wwed.zip | Формат TIFF |
| Коллектив авторов под редакцией А.А.Галаева №86 | Материаловедение полупроводников и диэлектриков | Влияние температуры и легирования на электропроводность металлов и полупроводников | 06-35.zip | Формат TIFF |
| Коллектив авторов под редакцией А.А.Галаева №86 | Материаловедение полупроводников и диэлектриков | Магнитные и электрические свойства ферро- и ферримагнитных материалов | 34-61.zip | Формат TIFF |
| Коллектив авторов под редакцией А.А.Галаева №86 | Материаловедение полупроводников и диэлектриков | Влияние состава твёрдого раствора при изовалентном замещении на ширину запрещённой зоны | 62-87.zip | Формат TIFF |
| Коллектив авторов под редакцией А.А.Галаева №86 | Материаловедение полупроводников и диэлектриков | Влияние химического состава и кристаллохимии ферритов на их температуру Кюри | 88-102.zip | Формат TIFF |
| Коллектив авторов под редакцией А.А.Галаева №86часть 2 | Материаловедение полупроводников и диэлектриков | Обложка | obl.zip | Формат TIFF |
| Коллектив авторов под редакцией А.А.Галаева №86часть 2 | Материаловедение полупроводников и диэлектриков | Оглавление | oglav.zip | Формат TIFF |
| Коллектив авторов под редакцией А.А.Галаева №86часть 2 | Материаловедение полупроводников и диэлектриков | Введение | wwed.zip | Формат TIFF |
| Коллектив авторов под редакцией А.А.Галаева №86часть 2 | Материаловедение полупроводников и диэлектриков | Построение Т-Х диаграммы состояний методом термического анализа | 006-031.zip | Формат TIFF |
| Коллектив авторов под редакцией А.А.Галаева №86часть 2 | Материаловедение полупроводников и диэлектриков | Количественный микроскопический фазовый и структурный анализ | 032-049.zip | Формат TIFF |
| Коллектив авторов под редакцией А.А.Галаева №86часть 2 | Материаловедение полупроводников и диэлектриков | Влияние легирования на термоэлектрические свойства полупроводниковых материалов | 050-081.zip | Формат TIFF |
| Коллектив авторов под редакцией А.А.Галаева №86часть 2 | Материаловедение полупроводников и диэлектриков | Распад пересыщенных твёрдых растворов на основе полупроводниковых фаз | 082-094.zip | Формат TIFF |
| Коллектив авторов под редакцией А.А.Галаева №86часть 2 | Материаловедение полупроводников и диэлектриков | Влияние термодоноров на свойства монокристаллического кремния | 095-106.zip | Формат TIFF |
| Т.О.Князькова, С.А.Саранин, под ред. А.Е.Краснопольского №39 | Методическое пособие по выполнению курсовой работы "Расчёт маломощного источника вторичного электропитания" | Обложка | obl.zip | Формат TIFF |
| Т.О.Князькова, С.А.Саранин, под ред. А.Е.Краснопольского №39 | Методическое пособие по выполнению курсовой работы "Расчёт маломощного источника вторичного электропитания" | Контент | 02-17.zip | Формат TIFF |
| Е.П.Скипетров, Л.Г.Спицына №53 | Физика полупроводников и методы измерения их параметров | Обложка | obl.zip | Формат TIFF |
| Е.П.Скипетров, Л.Г.Спицына №53 | Физика полупроводников и методы измерения их параметров | Оглавление | oglav.zip | Формат TIFF |
| Е.П.Скипетров, Л.Г.Спицына №53 | Физика полупроводников и методы измерения их параметров | Электронная теория проводимости | 03-11.zip | Формат TIFF |
| Е.П.Скипетров, Л.Г.Спицына №53 | Физика полупроводников и методы измерения их параметров | Зонная теория твёрдого тела | 11-25.zip | Формат TIFF |
| Е.П.Скипетров, Л.Г.Спицына №53 | Физика полупроводников и методы измерения их параметров | Статистика носителей заряда в полупроводниках | 26-38.zip | Формат TIFF |
| Е.П.Скипетров, Л.Г.Спицына №53 | Физика полупроводников и методы измерения их параметров | Рекомбинация носителей заряда в полупроводниках | 39-45.zip | Формат TIFF |
| Е.П.Скипетров, Л.Г.Спицына №53 | Физика полупроводников и методы измерения их параметров | Диффузия и дрейф неравновесных носителей заряда в полупроводниках | 46-53.zip | Формат TIFF |
| Е.П.Скипетров, Л.Г.Спицына №53 | Физика полупроводников и методы измерения их параметров | Поверхностные явления в полупроводниках | 54-60.zip | Формат TIFF |
| Е.П.Скипетров, Л.Г.Спицына №53 | Физика полупроводников и методы измерения их параметров | Контактные явления в полупроводниках | 61-67.zip | Формат TIFF |
| В.Т.Бублик, А.Н.Дубровина, Г.М.Зимичева №249 (новый №1181) | Методы исследования структуры (применение методов рентгеноструктурного анализа) | Обложка | obl.zip | Формат TIFF |
| В.Т.Бублик, А.Н.Дубровина, Г.М.Зимичева №249 (новый №1181) | Методы исследования структуры (применение методов рентгеноструктурного анализа) | Оглавление | oglav.zip | Формат TIFF |
| В.Т.Бублик, А.Н.Дубровина, Г.М.Зимичева №249 (новый №1181) | Методы исследования структуры (применение методов рентгеноструктурного анализа) | Качественный фазовый анализ | 02-22.zip | Формат TIFF |
| В.Т.Бублик, А.Н.Дубровина, Г.М.Зимичева №249 (новый №1181) | Методы исследования структуры (применение методов рентгеноструктурного анализа) | Индицирование отражений на дифрактограммах поликристаллов и определение периода решётки кубических кристаллов с помощью ЭВМ | 23-32.zip | Формат TIFF |
| В.Т.Бублик, А.Н.Дубровина, Г.М.Зимичева №249 (новый №1181) | Методы исследования структуры (применение методов рентгеноструктурного анализа) | Количественный фазовый анализ | 33-44.zip | Формат TIFF |
| В.Т.Бублик, А.Н.Дубровина, Г.М.Зимичева №249 (новый №1181) | Методы исследования структуры (применение методов рентгеноструктурного анализа) | Приложение IV | 45-54.zip | Формат TIFF |
| В.Т.Бублик, А.Н.Дубровина, Г.М.Зимичева №249 (новый №1181) | Методы исследования структуры (применение методов рентгеноструктурного анализа) | Анализ текстур | 55-70.zip | Формат TIFF |
| И.В.Бабайцев, А.Н.Варенков, Е.П.Потоцкий, В.М.Корукова под ред. Б.С.Мастрюкова № 453 | Учебное пособие по разделам "Безопасность жизнедеятельности" и "Охрана окружающей природной среды" в дипломной работе | Пособие целиком | bgd453.zip | Формат PNG |
| О.Е.Скадченко, А.С.Попович №647 | Органическая химия (сборник задач) | Обложка | obl.zip | Формат TIFF |
| О.Е.Скадченко, А.С.Попович №647 | Органическая химия (сборник задач) | Оглавление | oglav.zip | Формат TIFF |
| О.Е.Скадченко, А.С.Попович №647 | Органическая химия (сборник задач) | Теоретическое введение | 004-023.zip | Формат TIFF |
| О.Е.Скадченко, А.С.Попович №647 | Органическая химия (сборник задач) | Предельные углеводороды | 024-030.zip | Формат TIFF |
| О.Е.Скадченко, А.С.Попович №647 | Органическая химия (сборник задач) | Непредельные углеводороды этиленового ряда и диеновые углеводороды | 031-036.zip | Формат TIFF |
| О.Е.Скадченко, А.С.Попович №647 | Органическая химия (сборник задач) | Непредельные углеводороды ацетиленового ряда | 037-041.zip | Формат TIFF |
| О.Е.Скадченко, А.С.Попович №647 | Органическая химия (сборник задач) | Галогенопроизводные углеводородов | 042-047.zip | Формат TIFF |
| О.Е.Скадченко, А.С.Попович №647 | Органическая химия (сборник задач) | Одноатомные и многоатомные спирты | 048-053.zip | Формат TIFF |
| О.Е.Скадченко, А.С.Попович №647 | Органическая химия (сборник задач) | Альдегиды и кетоны | 054-058.zip | Формат TIFF |
| О.Е.Скадченко, А.С.Попович №647 | Органическая химия (сборник задач) | Простые и сложные эфиры | 059-063.zip | Формат TIFF |
| О.Е.Скадченко, А.С.Попович №647 | Органическая химия (сборник задач) | Тиоспирты и тиоэфиры | 064-069.zip | Формат TIFF |
| О.Е.Скадченко, А.С.Попович №647 | Органическая химия (сборник задач) | Карбоновые кислоты | 070-076.zip | Формат TIFF |
| О.Е.Скадченко, А.С.Попович №647 | Органическая химия (сборник задач) | Нитросоединения | 077-081.zip | Формат TIFF |
| О.Е.Скадченко, А.С.Попович №647 | Органическая химия (сборник задач) | Амины | 082-085.zip | Формат TIFF |
| О.Е.Скадченко, А.С.Попович №647 | Органическая химия (сборник задач) | Элементоорганические соединения | 086-088.zip | Формат TIFF |
| О.Е.Скадченко, А.С.Попович №647 | Органическая химия (сборник задач) | Галогеноспирты. Галогенокислоты. | 089-091.zip | Формат TIFF |
| О.Е.Скадченко, А.С.Попович №647 | Органическая химия (сборник задач) | Оксикислоты | 092-094.zip | Формат TIFF |
| О.Е.Скадченко, А.С.Попович №647 | Органическая химия (сборник задач) | Алдегидо- и кетонокислоты | 095-097.zip | Формат TIFF |
| О.Е.Скадченко, А.С.Попович №647 | Органическая химия (сборник задач) | Углеводы | 098-099.zip | Формат TIFF |
| О.Е.Скадченко, А.С.Попович №647 | Органическая химия (сборник задач) | Алициклические соединения | 100-103.zip | Формат TIFF |
| О.Е.Скадченко, А.С.Попович №647 | Органическая химия (сборник задач) | Циклотерпены | 104-105.zip | Формат TIFF |
| О.Е.Скадченко, А.С.Попович №647 | Органическая химия (сборник задач) | Ароматические углеводороды и их производные | 106-109.zip | Формат TIFF |
| О.Е.Скадченко, А.С.Попович №647 | Органическая химия (сборник задач) | Фенолы. Ароматические альдегиды, кетоны, кислоты. | 110-113.zip | Формат TIFF |
| О.Е.Скадченко, А.С.Попович №647 | Органическая химия (сборник задач) | Ароматические амины. Диазо и азосоединения. | 114-116.zip | Формат TIFF |
| О.Е.Скадченко, А.С.Попович №647 | Органическая химия (сборник задач) | Многоядерные ароматические соединения | 117-119.zip | Формат TIFF |
| О.Е.Скадченко, А.С.Попович №647 | Органическая химия (сборник задач) | Гетероциклические соединения | 120-122.zip | Формат TIFF |
| О.Е.Скадченко, А.С.Попович №647 | Органическая химия (сборник задач) | Высокомолекулярные соединения | 123-125.zip | Формат TIFF |
| В.Т.Бублик, А.Н.Дубровина №674 | Методы исследования материалов и компонентов электронной техники | Обложка | obl.zip | Формат TIFF |
| В.Т.Бублик, А.Н.Дубровина №674 | Методы исследования материалов и компонентов электронной техники | Оглавление | oglav.zip | Формат TIFF |
| В.Т.Бублик, А.Н.Дубровина №674 | Методы исследования материалов и компонентов электронной техники | Основные положения кинематической теории рассеяния | 004-023.zip | Формат TIFF |
| В.Т.Бублик, А.Н.Дубровина №674 | Методы исследования материалов и компонентов электронной техники | Основные методы структурного анализа и принципы расшифровки структуры кристаллов | 024-046.zip | Формат TIFF |
| В.Т.Бублик, А.Н.Дубровина №674 | Методы исследования материалов и компонентов электронной техники | Прикладные методы рентгеноструктурного анализа поликристаллов | 047-072.zip | Формат TIFF |
| В.Т.Бублик, А.Н.Дубровина №674 | Методы исследования материалов и компонентов электронной техники | Спектроскопические методы локального химического анализа | 073-097.zip | Формат TIFF |
| В.Т.Бублик, А.Н.Дубровина №674 | Методы исследования материалов и компонентов электронной техники | Основные положения рентгеновской кристаллооптики | 098-125.zip | Формат TIFF |
| В.Т.Бублик, А.Н.Дубровина №674 | Методы исследования материалов и компонентов электронной техники | Электронная микроскопия и электронография | 126-147.zip | Формат TIFF |
| В.Т.Бублик, А.Н.Дубровина №674 | Методы исследования материалов и компонентов электронной техники | Приложения, литература | 148-157.zip | Формат TIFF |
| Е.А.Ладыгин, А.И.Курносов, Г.Н.Савков, А.Л.Мельников №1386 | Технология полупроводниковых приборов и интегральных схем | Обложка | obl.zip | Формат TIFF |
| Е.А.Ладыгин, А.И.Курносов, Г.Н.Савков, А.Л.Мельников №1386 | Технология полупроводниковых приборов и интегральных схем | Оглавление | oglav.zip | Формат TIFF |
| Е.А.Ладыгин, А.И.Курносов, Г.Н.Савков, А.Л.Мельников №1386 | Технология полупроводниковых приборов и интегральных схем | Формирование активных областей приборов и микросхем методом йонного легирования | 04-23.zip | Формат TIFF |
| Е.А.Ладыгин, А.И.Курносов, Г.Н.Савков, А.Л.Мельников №1386 | Технология полупроводниковых приборов и интегральных схем | Получение омических контактов к активным областям приборов и микросхем | 24-43.zip | Формат TIFF |
| Е.А.Ладыгин, А.И.Курносов, Г.Н.Савков, А.Л.Мельников №1386 | Технология полупроводниковых приборов и интегральных схем | Управление параметрами приборов и микросхем методом радиационно-термической обработки | 44-59.zip | Формат TIFF |
| Е.А.Ладыгин, А.И.Курносов, Г.Н.Савков, А.Л.Мельников №1386 | Технология полупроводниковых приборов и интегральных схем | Изучение конструкций корпусов планарных приборов и микросхем | 60-77.zip | Формат TIFF |
| А.П.Савостин №1419 | Аналитический контроль в металлургическом производстве | Обложка | obl.zip | Формат TIFF |
| А.П.Савостин №1419 | Аналитический контроль в металлургическом производстве | Оглавление | oglav.zip | Формат TIFF |
| А.П.Савостин №1419 | Аналитический контроль в металлургическом производстве | Введение | 004-008.zip | Формат TIFF |
| А.П.Савостин №1419 | Аналитический контроль в металлургическом производстве | Потенциометрия | Введение; электроды в потенциометрии - 009-025.zip | Формат TIFF |
| А.П.Савостин №1419 | Аналитический контроль в металлургическом производстве | Потенциометрия | Прямая потенциометрия; потенциометрическое титрование - 026-037.zip | Формат TIFF |
| А.П.Савостин №1419 | Аналитический контроль в металлургическом производстве | Электрогравиметрия | Описание процесса - 038-054.zip | Формат TIFF |
| А.П.Савостин №1419 | Аналитический контроль в металлургическом производстве | Электрогравиметрия | Внутренний электролиз - 055-059.zip | Формат TIFF |
| А.П.Савостин №1419 | Аналитический контроль в металлургическом производстве | Кулонометрия | Введение; прямая кулонометрия - 060-070.zip | Формат TIFF |
| А.П.Савостин №1419 | Аналитический контроль в металлургическом производстве | Кулонометрия | Кулонометрическое титрование - 071-077.zip | Формат TIFF |
| А.П.Савостин №1419 | Аналитический контроль в металлургическом производстве | Вольтамперометрия | Описание процесса - 078-106.zip | Формат TIFF |
| А.П.Савостин №1419 | Аналитический контроль в металлургическом производстве | Вольтамперометрия | Амперометрическое титрование - 107-115.zip | Формат TIFF |
| Под ред. проф. Кузнецова Т.Д. №1454 | Технология материалов электронной техники | Обложка | obl.zip | Формат TIFF |
| Под ред. проф. Кузнецова Т.Д. №1454 | Технология материалов электронной техники | Оглавление | oglav.zip | Формат TIFF |
| Под ред. проф. Кузнецова Т.Д. №1454 | Технология материалов электронной техники | Испарение веществ в вакууме | 04-17.zip | Формат TIFF |
| Под ред. проф. Кузнецова Т.Д. №1454 | Технология материалов электронной техники | Получение тонких плёнок полупроводниковых соединений AIVBVI на диэлектрической подложке | 18-24.zip | Формат TIFF |
| Под ред. проф. Кузнецова Т.Д. №1454 | Технология материалов электронной техники | Плазмохимическое травление кремния, диоксида кремния | 25-43.zip | Формат TIFF |
| Под ред. проф. Кузнецова Т.Д. №1454 | Технология материалов электронной техники | Получение плёнок катодным распылением | 44-57.zip | Формат TIFF |
| Л.В.Кожитов, В.В.Крапухин, С.Ф.Маренкин, Г.Г.Тимошина №1458 | Технология материалов электронной техники | Обложка | obl.zip | Формат TIFF |
| Л.В.Кожитов, В.В.Крапухин, С.Ф.Маренкин, Г.Г.Тимошина №1458 | Технология материалов электронной техники | Оглавление | oglav.zip | Формат TIFF |
| Л.В.Кожитов, В.В.Крапухин, С.Ф.Маренкин, Г.Г.Тимошина №1458 | Технология материалов электронной техники | Введение | wwed.zip | Формат TIFF |
| Л.В.Кожитов, В.В.Крапухин, С.Ф.Маренкин, Г.Г.Тимошина №1458 | Технология материалов электронной техники | Исследование кинетики йонного обмена | 006-025.zip | Формат TIFF |
| Л.В.Кожитов, В.В.Крапухин, С.Ф.Маренкин, Г.Г.Тимошина №1458 | Технология материалов электронной техники | Получение воды высокой степени чистоты | 026-035.zip | Формат TIFF |
| Л.В.Кожитов, В.В.Крапухин, С.Ф.Маренкин, Г.Г.Тимошина №1458 | Технология материалов электронной техники | Исследование процесса ректификации с моделированием на ЭВМ | 036-058.zip | Формат TIFF |
| Л.В.Кожитов, В.В.Крапухин, С.Ф.Маренкин, Г.Г.Тимошина №1458 | Технология материалов электронной техники | Водородное восстановление кремния из хлор-водородных соединений | 059-068.zip | Формат TIFF |
| Л.В.Кожитов, В.В.Крапухин, С.Ф.Маренкин, Г.Г.Тимошина №1458 | Технология материалов электронной техники | Определение эффективного коэффициента распределения примеси при зонной перекристаллизации | 068-095.zip | Формат TIFF |
| Л.В.Кожитов, В.В.Крапухин, С.Ф.Маренкин, Г.Г.Тимошина №1458 | Технология материалов электронной техники | Оптимизация параметров процесса очистки материалов методом зонной перекристаллизации | 096-108.zip | Формат TIFF |
| Л.В.Кожитов, В.В.Крапухин, С.Ф.Маренкин, Г.Г.Тимошина №1458 | Технология материалов электронной техники | Исследование процесса испарения в вакууме | 109-127.zip | Формат TIFF |
| Л.В.Кожитов, В.В.Крапухин, С.Ф.Маренкин, Г.Г.Тимошина №1458 | Технология материалов электронной техники | Исследование процессов испарения веществ в вакууме | 128-134.zip | Формат TIFF |
| К.М.Розин №1585 | Методические указания по выполнению выпускной квалификационной работы на звание "бакалавр" | Полный текст - 10 страниц | 1585.zip | Формат Windows Text |
| В.Т.Бублик, К.Д.Щербачёв, №1637 | Дифракционные методы изучения поверхностных слоёв и приборных структур | Обложка | obl.zip | Формат TIFF |
| В.Т.Бублик, К.Д.Щербачёв, №1637 | Дифракционные методы изучения поверхностных слоёв и приборных структур | Оглавление | oglav.zip | Формат TIFF |
| В.Т.Бублик, К.Д.Щербачёв, №1637 | Дифракционные методы изучения поверхностных слоёв и приборных структур | Основы динамической теории рассеяния рентгеновских лучей | 01.zip | Формат TIFF |
| В.Т.Бублик, К.Д.Щербачёв, №1637 | Дифракционные методы изучения поверхностных слоёв и приборных структур | Рентгеновская дифрактометрия высокого разрешения | Двухкристальный рентгеновский спектрометр-дифрактометр (ДРС) - 02_01.zip | Формат TIFF |
| В.Т.Бублик, К.Д.Щербачёв, №1637 | Дифракционные методы изучения поверхностных слоёв и приборных структур | Рентгеновская дифрактометрия высокого разрешения | Трёхкристальный рентгеновский спектрометр-дифрактометр (TРС) - 02_02.zip | Формат TIFF |
| В.Т.Бублик, К.Д.Щербачёв, №1637 | Дифракционные методы изучения поверхностных слоёв и приборных структур | Возникновение внутренних напряжений при сопряжении слоёв твёрдых фаз | Термические напряжения - 03_01.zip | Формат TIFF |
| В.Т.Бублик, К.Д.Щербачёв, №1637 | Дифракционные методы изучения поверхностных слоёв и приборных структур | Возникновение внутренних напряжений при сопряжении слоёв твёрдых фаз | Деформации, вызванные точечными дефектами - 03_02.zip | Формат TIFF |
| В.Т.Бублик, К.Д.Щербачёв, №1637 | Дифракционные методы изучения поверхностных слоёв и приборных структур | Возникновение внутренних напряжений при сопряжении слоёв твёрдых фаз | Напряжения несоответствия - 03_03.zip | Формат TIFF |
| В.Т.Бублик, К.Д.Щербачёв, №1637 | Дифракционные методы изучения поверхностных слоёв и приборных структур | Использование дифрактометрии высокого разрешения (ДВР) для измерения деформаций | Изучение плёнок без переходного слоя - 04_01.zip | Формат TIFF |
| В.Т.Бублик, К.Д.Щербачёв, №1637 | Дифракционные методы изучения поверхностных слоёв и приборных структур | Использование дифрактометрии высокого разрешения (ДВР) для измерения деформаций | Изучение сопрягающихся плёнок с переходным слоем - 04_02.zip | Формат TIFF |
| В.Т.Бублик, К.Д.Щербачёв, №1637 | Дифракционные методы изучения поверхностных слоёв и приборных структур | Использование дифрактометрии высокого разрешения (ДВР) для измерения деформаций | Применение трёхкристальной дифрактометрии для анализа деформационного состояния градиентных слоёв - 04_03.zip | Формат TIFF |
| В.Т.Бублик, К.Д.Щербачёв, №1637 | Дифракционные методы изучения поверхностных слоёв и приборных структур | Использование дифрактометрии высокого разрешения (ДВР) для измерения деформаций | Расчёт КДО на основе динамической теории - 04_04.zip | Формат TIFF |
| В.Т.Бублик, К.Д.Щербачёв, №1637 | Дифракционные методы изучения поверхностных слоёв и приборных структур | Полное внешнее отражение рентгеновских лучей и его использование для диагностики поверхности (рентгеновская рефлексометрия) | Зеркальное отражение - 05_01.zip | Формат TIFF |
| В.Т.Бублик, К.Д.Щербачёв, №1637 | Дифракционные методы изучения поверхностных слоёв и приборных структур | Полное внешнее отражение рентгеновских лучей и его использование для диагностики поверхности (рентгеновская рефлексометрия) | Изучение многослойных структур - 05_02.zip | Формат TIFF |
| В.Т.Бублик, К.Д.Щербачёв, №1637 | Дифракционные методы изучения поверхностных слоёв и приборных структур | Примеры использования дифрактометрии высокого разрешения при изучении структуры приповерхностных слоёв | Йонно-имплантированные структуры - 06_01.zip | Формат TIFF |
| В.Т.Бублик, К.Д.Щербачёв, №1637 | Дифракционные методы изучения поверхностных слоёв и приборных структур | Примеры использования дифрактометрии высокого разрешения при изучении структуры приповерхностных слоёв | Сверхрешётки типа Si/SiGe - 06_02.zip | Формат TIFF |
| В.Т.Бублик, К.Д.Щербачёв, №1637 | Дифракционные методы изучения поверхностных слоёв и приборных структур | Заключение | zakl.zip | Формат TIFF |
| В.Т.Бублик, К.Д.Щербачёв, №1637 | Дифракционные методы изучения поверхностных слоёв и приборных структур | Библиография | bibl.zip | Формат TIFF |
Будет продолжено...